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常見的半導體晶圓（Wafer）量測方法

常見的半導體晶圓（Wafer）量測方法

1.晶圓缺陷粒子檢測系統(tǒng)顆粒和缺陷：顆粒和缺陷導致晶圓表面不規(guī)則形貌。散射入射光：通過檢測散射光來監(jiān)測顆粒和缺陷。晶圓缺陷檢測系統(tǒng)可以通過獲取缺陷的（X，Y）坐標來檢測晶圓上的物理缺陷（顆粒）和圖案缺...

激光鐳射切割系統(tǒng)

切割金屬線路去除鈍化層、氧化物及金屬層消除ITP短路...

天恒科儀（蘇州）光電技術(shù)有限公司

天恒科儀(蘇州)光電技術(shù)有限公司總部位于中國蘇州，是中國半導體精密分析技術(shù)及解決方案的研發(fā)商和生產(chǎn)商，以光電精密分析技術(shù)為核心的引領(lǐng)者，客戶遍布多個國家和全國各......

半導體檢測設(shè)備在半導體產(chǎn)業(yè)中意義重大

由于晶圓生產(chǎn)附加值極高，因此半導體檢測設(shè)備在半導體產(chǎn)業(yè)中的地位日益凸顯。2020年，我國半導體檢測設(shè)備市場規(guī)模達到176億元。隨著我國半導體產(chǎn)業(yè)的不斷發(fā)展，我國......

一文看懂半導體檢測和量測設(shè)備行業(yè)發(fā)展趨勢：國產(chǎn)化空間大

全球檢測和量測設(shè)備現(xiàn)狀1、市場規(guī)模全球半導體檢測和量測設(shè)備市場規(guī)模來看，隨著半導體下游消費電子和PC等需求2020-2021年市場回暖尤其是2021年明顯增長，......

了解半導體測試必備的三大設(shè)備：測試機、分選機、探針臺

半導體量測檢測，主要包含：一、三大方向1、Metrology2、Defectinspection3、Review二、八種分類Metrology包含4種分類、De......

半導體IGBT在高功率環(huán)境中散熱方法

絕緣柵雙極晶體管（insulatedgatebipolartransistor，IGBT）是新能源轉(zhuǎn)換系統(tǒng)和高壓電源開關(guān)裝置中的關(guān)鍵部件，也是大功率半導體中具有......

如何正確認知半導體功率器件動態(tài)測試參數(shù)

我們在選購功率器件動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)時，都會先基于各設(shè)備廠商提供的參數(shù)手冊給出的信息進行對比評價，選出備選設(shè)備再進行實測驗證，最后綜合成本、測試能力范圍、實測結(jié)果......

常見的半導體晶圓（Wafer）量測方法

1.晶圓缺陷粒子檢測系統(tǒng)顆粒和缺陷：顆粒和缺陷導致晶圓表面不規(guī)則形貌。散射入射光：通過檢測散射光來監(jiān)測顆粒和缺陷。晶圓缺陷檢測系統(tǒng)可以通過獲取缺陷的（X，Y）坐......

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