F20薄膜厚度測量儀
使用F20高級頻諾反射測量系統(tǒng),我們能輕松的實現(xiàn)對膜層厚度和光學常數(shù)(n和k值)的測量。通過對膜層頂部、底部反射光諾進行分析,數(shù)秒內(nèi)我們即可得到膜層的厚度、折射牢和消光系數(shù)。
使用F20高級頻諾反射測量系統(tǒng),我們能輕松的實現(xiàn)對膜層厚度和光學常數(shù)(n和k值)的測量。通過對膜層頂部、底部反射光諾進行分析,數(shù)秒內(nèi)我們即可得到膜層的厚度、折射牢和消光系數(shù)。